Zmodyfikowana metoda dodatku wzorca w analizie rentgenofluorescencyjnej

Warunkiem dobrej metody analitycznej dla spektometrii rentgenofluorescencyjnej (XRF) jest uzyskanie proporcjonalności między wielkością mierzoną (natężenie promieniowania fluorescencyjnego X) i oznaczaną (stężenie analitu). Osiągnięcie takiej zależności w spektrometrii XRF było celem wielu badań prowadzonych od chwili wykorzystania tej techniki do oznaczania składu chemicznego substancji.

Czytaj dalej
X
Skip to content

Jeśli chcesz kontynuować oglądanie tej strony musisz zaakceptować użycie plików cookie. Więcej informacji

UWAGA: W portalu stosowane są pliki cookie.
Korzystanie z portalu bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim urządzeniu (komputerze, telefonie), na co wyrażasz zgodę. W każdym czasie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies. Więcej szczegółów znajdziesz na stronie Informacje o plikach cookies oraz Polityka prywatności.

Komunikat nawiązujący do nowelizacji Ustawy Prawo Telekomunikacyjne wchodzącej w życie dnia 22 marca 2013 roku.

Zamknij