Laboratoria Aparatura Badania
Warunkiem dobrej metody analitycznej dla spektometrii rentgenofluorescencyjnej (XRF) jest uzyskanie proporcjonalności między wielkością mierzoną (natężenie promieniowania fluorescencyjnego X) i oznaczaną (stężenie analitu). Osiągnięcie takiej zależności w spektrometrii XRF było celem wielu badań prowadzonych od chwili wykorzystania tej techniki do oznaczania składu chemicznego substancji.
Czytaj dalejJeśli chcesz kontynuować oglądanie tej strony musisz zaakceptować użycie plików cookie. Więcej informacji
UWAGA: W portalu stosowane są pliki cookie.
Korzystanie z portalu bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim urządzeniu (komputerze, telefonie), na co wyrażasz zgodę. W każdym czasie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies. Więcej szczegółów znajdziesz na stronie Informacje o plikach cookies oraz Polityka prywatności.
Komunikat nawiązujący do nowelizacji Ustawy Prawo Telekomunikacyjne wchodzącej w życie dnia 22 marca 2013 roku.