Spektrometr FTIR z nasadką ATR
| Dane organizatora | POLITECHNIKA KRAKOWSKA IM. TADEUSZA KOŚCIUSZKI WYDZIAŁ INŻYNIERII I TECHNOLOGII CHEMICZNEJ 31-155 KRAKÓW WARSZAWSKA 24 Tel. 12 628 27 01 Fax. 12 628 20 35 E-mail wiitch@chemia.pk.edu.pl WWW www.chemia.pk.edu.pl |
|---|---|
| Województwo | małopolskie |
| Powiat | Kraków |
| Treść zamówienia | Spektrometr FTIR z nasadką ATR… |
| Opis zamówienia | Spektrometr FTIR z nasadką ATR |
| Specyfikacja | https://tender-attachments.com/cgi-bin/gd_tai.cgi?action=5&id=pk.edu.pl_1663234449272 |
| LINK do SIWZ | http://www.pk.edu.pl/index.php?option=com_content&view=article&id=109&catid=27&lang=pl |
| Osoba do kontaktu | Maria Kurańska, 126282747, maria.kuranska@gmail.com |
| Wymagany termin realizacji zamówienia | nie dłuższy niż 15 tygodni |
| Miejsce i termin składania ofert | POLITECHNIKA KRAKOWSKA IM. TADEUSZA KOŚCIUSZKI WYDZIAŁ INŻYNIERII I TECHNOLOGII CHEMICZNEJ 31-155 KRAKÓW WARSZAWSKA 24 2022-09-23 |
| Sposób składania ofert | POLITECHNIKA KRAKOWSKA IM. TADEUSZA KOŚCIUSZKI WYDZIAŁ INŻYNIERII I TECHNOLOGII CHEMICZNEJ, WARSZAWSKA 24, 31-155 KRAKÓW Godzina: 12:00 |
| Miejsce i termin otwarcia ofert/licytacji | |
| Termin związania ofertą | |
| Składanie ofert wariantowych/częściowych | |
| Uwagi | Zapytanie ofertowe dla zamówień o wartości szacunkowej mniejszej niż 130 000 zł netto (bez podatku VAT) Zamawiający Wydział Inżynierii i Technologii Chemicznej, Politechniki Krakowskiej Ul. Warszawska 24, 31-155 Kraków (nazwa i adres jednostki zamawiającej) 1. Zaprasza do złożenia oferty cenowej na Spektrometr FTIR z nasadką ATR 1. Zakres spektralny, co najmniej 7 800 – 350 cm 1 2. Maksymalna rozdzielczość optyczna lepsza niż 0.5 cm 1 3. Zakres dynamiczny przetwornika ADC – 24 bity 4. Szczelny i osuszany układ optyczny z okienkami KBr pokrywanymi BaF2 oddzielającymi optykę od przedziału próbek 5. Podłączenia do opcjonalnego przedmuchu spektrometru i przedziału próbek osuszonym gazem 6. Szumy mniejsze niż 1,25×10’5 Abs ( peak-to-peak, pomiar 1 minuta przy rozdzielczości 4cm 1, detektor DLaTGS) 7. Interferometr justowany dynamicznie w trakcie skanowania. Mechanizm dynamicznego justowania wykorzystujący wiązkę lasera, padającą na trójpozycyjny detektor laserowy, do monitorowania i utrzymywania idealnego względnego położenia kątowego zwierciadeł interferometru 8. Układ optyczny wykorzystujący monolityczne lustra wzorcowe 9. Ogniskowanie wiązki centralnie w komorze pomiarowej aparatu 10. Ceramiczne trwałe źródło promieniowania IR 11. Beamsplitter Ge/KBr 12. Detektor DLaTGS 13. Laser półprzewodnikowy o stabilnej długości fali promieniowania zapewniający precyzję liczb falowych nie gorszą niż +/- 0,001 cnr1 14. Komunikacja spektrometru z komputerem przez złącze USB 2.0/3.0 15. Automatyczne rozpoznawanie przez system akcesoriów pomiarowych takich jak moduł do pomiarów transmisyjnych, przystawki ATR, przystawki rozproszeniowe i inne 16. System osuszania optyki z wkładami osuszającymi w metalowej obudowie z możliwością regeneracji w suszarce. Wymiana wkładów osuszających bez zdejmowania obudowy aparatu. Wskaźnik poziomu wilgotności na wierzchu aparatu. Nie dopuszcza się systemów osuszania wymagających podłączenia aparatu do sieci elektrycznej. 17. Wbudowana na stałe w aparat automatyczna przystawka do testowania spektrometru z kołem z certyfikowanym wzorcem polistyrenowym 18. Kompaktowa konstrukcja: – masa spektrometru nie przekraczająca 10kg – wymiary podstawy nie przekraczające 35 x 30 cm 19. Zasilacz spektrometru umieszczony na zewnątrz aparatu o wymiarach nie przekraczających 12 x 6 x 4cm eliminujący wprowadzanie wysokiego napięcia (prądu zmiennego 230V) do aparatu i zapewniający podwyższoną stabilność termiczną systemu 20. Przystawka pomiarowa do pomiarów transmisyjnych, wyposażona w co najmniej 10 szyn prowadzących do mocowania standardowych akcesoriów transmisyjnych. Przystawka powtarzalnie mocowana w przedziale pomiarowym i integrująca się z obudową spektrometru – po założeniu uszczelniająca drogę optyczną i jednocześnie włączona w system przedmuchu 21. Wysokociśnieniowa przystawka ATR do szybkiego pomiaru próbek z litym kryształem diamentowym pokrywającym pełnym zakres spektralny spektrometru. Przystawka wyposażona w odchylane urządzenie dociskowe o powtarzalnej sile docisku z mechanizmem dynamometrycznym, automatycznie rozpoznawana przez spektrometr z automatycznym ładowaniem optymalnych parametrów analizy. Przystawka powtarzalnie mocowana w przedziale pomiarowym i integrująca się z obudową spektrometru – po założeniu uszczelniająca drogę optyczną i jednocześnie włączona w system przedmuchu 22. Możliwość rozbudowy o interfejs TGA-IR, montowany w przedziale próbek umożliwiający sprzężenie z analizatorem TGA, obejmujący grzaną kapilarę transferową oraz kuwetę gazową o długości drogi optycznej co najmniej 10 cm 23. Kompatybilny zestaw komputerowy zapewniający kompatybilność z oprogramowaniem sterującym 24. Sterowanie przez zewnętrzny komputer PC pracujący w systemie Windows. Program obsługi spektrometru co najmniej w języku polskim i angielskim kompatybilny z Windows 10/11 64-bit. Automatyczny wybór wersji językowej przy logowaniu do Windows i przez wybór opcji regionalnych w panelu sterowania Windows. Musi zapewniać: – logowanie użytkowników z hasłami i różnymi poziomami dostępu, – funkcja automatycznego doboru wzmocnienia sygnału – funkcje wykonywania eksperymentów i analizy danych we wszystkich rodzajach eksperymentów – procedurę Auto-Tune – automatycznego ustawiania aparatu na maksimum energii z poziomu oprogramowania – możliwość ustawiania zaawansowanych parametrów pomiarowych – funkcji apodyzacji (co najmniej Happ-Genzel, Beer-Norton, Blackman-Harris, Boxcar, Triangle, Cosine), korekcji fazy (Mertz, Power, deHaseth), wypełniania zerami (0, 1x, 2x), cyfrowych filtrów gómoprzepustowych i dolnoprzepustowych – podgląd widm zapisanych na dysku przed ich otwarciem (jak podgląd dokumentów w pakiecie Office) – dostęp do surowych danych łącznie z interferogramem – bezpośrednie otwieranie i zapisywanie danych spektralnych w najczęściej wykorzystywanych formatach widm IR, co najmniej: spc (m.in. GRAMS), spa (m.in. OMNIC), dx/jdx (JCAMP-DX), txt/csv (ASCII), gaml (GAML), abs/ras (WinFIRST) – funkcje przetwarzania widm: korekcja linii bazowej – automatyczna i manualna, dekonwolucja, odejmowanie spektralne, wyznaczanie pochodnych, znajdowanie maksimów, wygładzanie, transformacja Kramersa Kroniga, korekcja ATR, pomiar wysokości i położenia pasma, pomiar pola powierzchni pasm – bezwzględnej i względnej – funkcja rozkładu pasm na składowe z algorytmem konwergencji typu Fletcher-Powell-McCormick, uwzględniająca co najmniej następujące typy pasm: Gaussian, Lorentzian, mieszany Gaussian/Lorentzian, Voigt – przeszukiwanie bibliotek w celu identyfikacji widma nieznanej próbki oraz/lub porównania z widmem wzorca – tworzenie własnych bibliotek użytkownika, – biblioteki widm obejmujące co najmniej 10 tyś. widm związków organicznych, nieorganicznych, w tym min. 600 polimerów – możliwość odtwarzania podprogramów/makroinstrukcji do automatycznego wykonywania zadań wybranych przez użytkownika, – moduł spektralnej interpretacji widm, – automatyczna korekcja zawartości CO2 i pary wodnej przez oprogramowanie bez konieczności zbierania widm referencyjnych – wyświetlanie widm w czasie rzeczywistym (w trakcie pomiaru), – automatyczne wykonywanie testów jakości widm z informowaniem użytkownika m.in. o niepożądanych pasmach spektralnych w widmie tła, nieprawidłowym kształcie pasm, obecności pasm całkowicie absorbujących, nachyleniu linii podstawowej, zbyt małej energii interferogramu, – aktywna diagnostyka w trakcie pomiaru z ciągłym monitorowaniem stanu elementów systemu i wizualnym wskaźnikiem poprawnej pracy aparatu, – wbudowany edytor do tworzenia raportów według własnych szablonów, – archiwizowanie gotowych raportów w nieedytowalnych skoroszytach elektronicznych z funkcją przeszukiwania skoroszytów umożliwiającą szybkie dotarcie do każdego raportu – moduł do analiz chemometrycznych obejmujący co najmniej następujące algorytmy analizy ilościowej i klasyfikacyjnej: • do analiz ilościowych (min. prawo Lamberta-Beera, klasyczna metoda najmniejszych kwadratów) • do analiz klasyfikacyjnych (min. przeszukiwanie biblioteki wzorców z analizą korelacji, także dla pochodnych widm; wektorowa analiza podobieństwa, analiza korelacyjna widm uśrednionych) – moduł rozszerzonej analizy widm obejmujący algorytm jednoczesnej wieloskładnikowej identyfikacji widm, pozwalający na identyfikację składników próbki w trakcie pojedynczego przeszukiwania biblioteki, bez konieczności stosowania odejmowania widm poszczególnych składników Pozostałe warunki: • Urządzenie musi posiadać certyfikat CE • Wymagany montaż i uruchomienie przyrządu wraz ze sprawdzeniem działania oraz przeszkolenie pracowników 2. Warunki udziału w postępowaniu (jeżeli dotyczy)………………………………………………. 3. Inne istotne warunki zamówienia (można załączyć opcjonalnie projekt umowy) • Wymagany termin realizacji zamówienia nie dłuższy niż 15 tygodni Okres gwarancji 12 miesięcy Warunki płatności przelew 30 dni Kary umowne 0,1% dziennie 4. Przy wyborze oferty zamawiający będzie kierował się kryterium: • Cena – waga 100% 5. Informacje dotyczące wyboru najkorzystniejszej oferty Zamawiający wybierze ofertę spełniającą wszystkie wymagane warunki oraz taką, która uzyska największą liczbę punktów zgodnie z wyżej przyjętymi kryteriami. 6. Wszelkich informacji udziela: Maria Kurańska, 126282747, maria.kuranska@gmail.com imię, nazwisko, telefon, e-mail osoby wyznaczonej do przeprowadzenia procedury 7. Sposób przygotowania oferty: Ofertę należy sporządzić na załączonym formularzu Oferta i przekazać do zamawiającego pisemnie, faksem lub pocztą elektroniczną: Maria Kurańska, ul. Warszawska 24 pok. 610, e-mail maria.kuranska@gmail.com do dnia 23.09.2022 do godziny 12.00 |