1. Modernizacja obecnie posiadanego mikroskopu sił atomowych (AFM) Multimode z Nanoscope III do modelu Multimode 8-HR z Nanoscope 6* lub równoważny polegająca na:Wymianie kontrolera na model Nanoscope 6* lub równoważny o parametrach:• dwa szybkie (50 MHz), co najmniej 16-bitowe przetworniki ADC• szybki (10 MHz), co najmniej 16-bitowy przetwornik ADC do akwizycji danych dla trybu przerywanego kontaktu z modulacją siły, trybu kontaktowego, tunelowej mikroskopii skaningowej i trybów elektrycznych z regulowanym filtrowaniem cyfrowym dla dodatkowych opcji prędkości/rozdzielczości• co najmniej osiem 20-bitowych przetworników ADC o średniej prędkości (500 kHz)• co najmniej dwa szybkie (50 MHz) 16-bitowe przetworniki DAC• co najmniej osiem 16-bitowych przetworników DAC o średniej szybkości (2 MHz)• 32 bitowe sterowanie skanowaniem w trzech osiach z częstotliwością co najmniej 2 MHz umożliwiające szybkie skanowanie z najwyższymi rozdzielczościami• dwa szybkie złącza Lock-in (10 Hz do 10 MHz) i jedno średniej prędkość (0,1 Hz do 50 kHz) zapewniające szerokopasmową obsługa trybów rezonansowych• nowa karta DSP dedykowana do oferowanego kontroleraWymianie elementów elektronicznych w bazie posiadanego mikroskopu Multimode niezbędnych do prawidłowej komunikacji z kontrolerem model Nanoscope 6* lub równoważnym,Wymianie kamery do podglądu optycznego o rozdzielczości min. 5MP umożliwiającą podłączenie do systemu za pomocą złącza USB.Przeprowadzona modernizacja mikroskopu sił atomowych powinna zapewnić kompatybilność z posiadanymi przez Zamawiającego modułami w postaci tunelowej mikroskopii skaningowej oraz do pomiarów prądowych w skali nano jak też skanerem i głowicą. Ponadto możliwość pracy w następujących trybach oraz parametrach:szybkość skanowania do min. 6Hz,mody pomiarowe: kontaktowy, przerywanego kontaktu, przerywanego kontaktu z modulacją siły oraz szybkozmiennym oddziaływaniem siły na powierzchnię,możliwość wykonywania pomiarów mechanicznych powierzchni próbki w postaci krzywych siłowych oraz wyznaczenia parametrów sprężystości takich jak moduł Younga. 2.Doposażenie zmodernizowanego mikroskopu sił atomowych w Sondę Kelvina zapewniającą możliwość pomiarów w trybie Kelvinowskiej Mikroskopii Sił Atomowych w modzie amplitudowym umożliwiającą pracę w trybie bezkontaktowym oraz pomiar różnicy potencjałów między badaną próbką a sondą.3.Doposażenie w moduł umożliwiający pracę z dużą szybkością skanowania powierzchni.4.Wymianie podlega również jednostka sterująca (komputer) z monitorem oraz oprogramowanie zaktualizowane do najnowszej wersji umożliwiające współpracę z nowym kontrolerem model Nanoscope 6* lub równoważnym oraz korzystanie z modułu umożliwiającego pracę z dużą szybkością skanowania powierzchni jak też trybu asystenta skanowania, który optymalizuje kluczowe parametry pracy mikroskopu, dzięki czemu usprawnia pracę operatora mikroskopu.5.Zestaw sond pomiarowych do modu przerywanego kontaktu z modulacją siły i pracy w trybie Kelvinowskiej Mikroskopii Sił Atomowych w modzie amplitudowym.6.Zamawiający zobowiązuje Wykonawcę do zabrania i utylizacji wymienionych elementów mikroskopu sił atomowych AFM. 7.Gwarancja minimalna 12 miesięcy.8.Wykonawca zapewni szkolenie dla personelu w miejscu instalacji aparatury w wymiarze 32 godzin dla max 5 osób w terminach ustalonych z Zamawiającym.

W9/ZP/1/2025