Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
| Organizator |
CENTRUM ZAAWANSOWANYCH MATERIAŁÓW I TECHNOLOGII CEZAMAT POLITECHNIKA WARSZAWSKA
02-822 WARSZAWA POLECZKI 19 Telefon: 22 234 71 57 Fax: 22 234 71 53 Email: biuro@cezamat.eu WWW: http://www.cezamat.eu/index.php/pl/ |
|---|---|
| Województwo/Powiat |
mazowieckie / Warszawa
Dodatkowe lokalizacje
mazowieckie / Warszawa |
| Opis |
Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej do Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT
Część zamówienia: LOT-0001 Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej 1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej. do Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii CEZAMAT Politechniki Warszawskiej, ul. Poleczki 19, 02-822 Warszawa.2. Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia określony został w załączniku nr 2 do SWZ – Opis przedmiotu zamówienia. |
| Termin składania ofert | 14-02-2025 |
| Miejsce i termin składania ofert | CENTRUM ZAAWANSOWANYCH MATERIAŁÓW I TECHNOLOGII CEZAMAT POLITECHNIKA WARSZAWSKA POLECZKI 19 02-822 WARSZAWA mazowieckie |
